一、冠層分析儀是干什么的？
冠層分析儀是用來(lái)研究分析植物冠層參數(shù)的重要儀器，可快速分析植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息等，廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
1、植物冠層分析儀 TOP-1000介紹：
植物冠層分析儀TOP-1000可測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系等，還可用于了解農(nóng)作物生長(zhǎng)狀況，用于指導(dǎo)生產(chǎn)，了解不同特種、品種冠層差異性，測(cè)量植物冠層上下光照情況，可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)和植物學(xué)等研究領(lǐng)域。
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2、植物冠層測(cè)量?jī)x TOP-1200
植物冠層測(cè)量?jī)xTOP-1200可快速測(cè)定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲(chóng)害程度等，還能分析植被指數(shù)RVI、NDVI、作物葉層含氮量、氮積累量、葉面積指數(shù)、葉干重等，廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研。
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3、植物冠層分析系統(tǒng) TOP-1300
植物冠層分析系統(tǒng)用于各種高度植物冠層的研究，利用魚(yú)眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，可無(wú)損測(cè)量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率、葉面積密度的方位分布等，廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
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杭州托普儀器有限公司專(zhuān)業(yè)研發(fā)生產(chǎn)農(nóng)業(yè)科研儀器，如果您有任何相關(guān)需求請(qǐng)與我們聯(lián)系，我們提供廠家優(yōu)惠價(jià)格，同時(shí)為您提供專(zhuān)業(yè)化的服務(wù)！
